Virvelstrømtykkelsesmåler

For å redusere feilen i måleresultatet forårsaket av vibrasjonen av materialet som testes, brukes differensialmålemetoden. Deteksjonsspolen L nær overflaten av det målte metallmaterialet og kapasitansen i målekretsen danner en resonanskrets, og et høyfrekvent vekselmagnetisk felt genereres i spolen, og en virvelstrøm induseres i det målte metallet. Virvelstrømtapet er relatert til avstanden x1, x2 fra overflaten av det målte metallmaterialet til deteksjonsspolen. Det induserte elektromagnetiske feltet som genereres av virvelstrømmen reagerer på spolen L, noe som fører til at kvalitetsfaktoren Q-verdi, ekvivalent impedans Z og ekvivalent induktans L endres tilsvarende. Q-verdien, Z-verdien eller L-verdien konverteres til amplitude- eller frekvensverdien til deteksjonssignalspenningen gjennom målekretsen, og tykkelsen t kan måles etter operasjonen av adderen. Denne tykkelsesmåleren har høy dynamisk nøyaktighet.